微型轴承套圈沟道银膜厚度的测量

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摘要采用泰勒圆度仪测量微型轴承套圈沟道银膜厚度。由于标准试件上银膜的存在,使坐标记录纸上产生轮廓曲线的突跳量,最大突跳量(格)乘以仪器放大倍率的格值(μm/格),即得银膜厚度值(μm)。附图2幅。

作者顾宗慧

机构地区上海微型轴承厂计量室

出处《轴承》北大核心 1991年第6期43-45,57,共3页 Bearing

关键词轴承套圈银膜厚度测量

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轴承

1991年第6期

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