微电子学、集成电路
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1郝跃,朱春翔,张卫东.XD－YES：IC功能成品率模拟器的实现[J].固体电子学研究与进展,1996,16(4):365-371. 被引量：1
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3郝跃,朱春翔,张卫东.集成电路功能成品率模拟与设计方法[J].Journal of Semiconductors,1996,17(9):677-682. 被引量：4
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4微电子学、集成电路[J].中国无线电电子学文摘,1999(4):47-49.
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5郝跃,朱春翔,刘志镜.集成电路硅片上缺陷空间分布的分形表征[J].电子学报,1996,24(8):10-14. 被引量：2
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6郝跃,马佩军,张卫东,赵天绪.功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法[J].电子学报,2000,28(8):76-78. 被引量：2
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7郝跃,林锐,马佩军.VLSI成品率预测与仿真[J].电子学报,1999,27(2):55-58. 被引量：6
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8张安康.用微电子测试结构研究超薄栅介质的可靠性[J].电子器件,1991,14(4):8-17. 被引量：1
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9赵天绪,何广平,姜晓鸿,郝跃.集成电路功能成品率的研究[J].宝鸡文理学院学报（自然科学版）,1999,19(3):39-42. 被引量：1
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10微电子学、集成电路[J].中国无线电电子学文摘,2005,0(2):45-51.
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