电气测量技术及仪器
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1孙新宇,王鑫,孙以材,孟庆浩,孙冰,李福林.微处理器在微区薄层电阻测试Mapping技术中的应用[J].半导体技术,1998,23(2):18-23. 被引量：2
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2孙以材,刘新福,高振斌,孟庆浩,孙冰.微区薄层电阻四探针测试仪及其应用[J].固体电子学研究与进展,2002,22(1):93-93. 被引量：12
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3电气测量技术及仪器[J].中国无线电电子学文摘,2001,0(4):142-148.
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4翟卫东.中兴ZXM10动力设备及环境集中监控系统[J].中兴新通讯,1998,4(3):54-56.
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5李君.适合于移动通信网的集中监控系统[J].通信电源技术,1999,16(4):24-28.
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6李奉君.ZXM10—中兴动力设备及环境集中监控系统[J].通讯世界,1998(11):58-60.
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7安静.动力设备及环境集中监控系统的关键设备及典型产品[J].电信科学,1998,14(5):48-50. 被引量：13
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8孟庆浩,孙新宇,孙以材.薄层电阻测试Mapping技术[J].Journal of Semiconductors,1997,18(9):701-705. 被引量：8
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9冯文涛,于明鑫.单片机控制的高精度双积分ADC[J].辽宁师专学报（自然科学版）,2004,6(4):11-11. 被引量：1
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10刘新福,孙以材.微区薄层电阻测试方法的研究[J].河北工业大学学报,2003,32(3):15-18. 被引量：2
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