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键合金丝的合金化研究动向 被引量:12

Trend of Alloying Investigation for Gold Bonding Wires
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摘要 根据最新的专利文献综述了高弧度、低弧度、高强度键合金丝的发展现状 ,介绍了微量添加元素的作用和Au -Cu -Ca、Au -Ag、Au -Ni、Au -Sn(In)、Au -Pt(Pd)等合金化键合金丝的研究动向 ,以及键合金丝的微量添加元素复合化、组成合金化、加工细线化、低成本化的发展趋势。 According to the new patents,development states of gold bonding wires used for IC?LSI was summarized.In the present paper,the new trends of alloying investigation for bonding wire,the effects of trace additive elements and properties of some new gold alloys such as Au-Cu-Ca,Au-Ag,Au-Ni,Au-Sn(In),?Au-Pt(Pd)and so on were introduced.
作者 朱建国
出处 《贵金属》 CAS CSCD 2002年第3期57-61,共5页 Precious Metals
关键词 键合金丝 合金化 研究动向 半导体器件 性能 组成 金合金 Gold bonding wires Semiconductor devices Properties Compositions
  • 相关文献

参考文献1

  • 1[6]Yasuhide Ohno, Yoshio Ohzeki. Bonding wire for semiconductor element [P]. US 5491034, 1994. 6.

同被引文献145

引证文献12

二级引证文献84

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