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基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现 被引量:1

Design and Realization of 2M Integrated Digital Tester Based on Windows CE
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摘要 基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是一款体积小、重量轻、成本低、性能稳定的低速率误码测试仪。 Based on the ARM core Windows CE operating system,2M Integrated Digital Tester can use to test 50b/s to 2048kb/s bit error rate,monitoring can be conducted online,offline monitoring,2M signal eye tests,detailed analysis of data,solve the key issues,such as BER stating,BER testing and the bit error rate calculation.This is a small volume,low cost portability,steady performance and low power consumption merits.
作者 张杰 黄俊
出处 《电脑知识与技术》 2009年第3X期2273-2274,共2页 Computer Knowledge and Technology
关键词 比特误码率 比特误码率测试仪(BERT) 低功耗 Windows CE ARM Bit Error Rate Bit Error Rate Tester(BERT) Low Power Windows CE ARM
  • 相关文献

参考文献4

  • 1.DS21354datasheet[]..2003
  • 2.DS21372datasheet[]..2003
  • 3.Samsung electronics[].wwwketirekr.
  • 4.MT91L60datasheet[]..2002

同被引文献3

  • 1王宜怀,曹金华.嵌人式系统设计实战——基于飞思卡尔S12X微处理器[M].北京:北京航空航天大学出版汁,2011.
  • 2孙同景.Freescale9S12十六位单片机原理及嵌人式开发技术[M].北京:机械工业出版社,2010.
  • 3伍希,罗和平,阮爱武.数字测试仪下的参数测试单元的设计[J].今日电子,2009(4):68-69. 被引量:4

引证文献1

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