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集成电路制造工艺的Cpk及P水平评价

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摘要 该文在阐述Pσ设计概念以及与成品率、DPMO换算方法的基础上,分析了影响Pσ设计水平评价精度的关键问题,提出了解决问题的算法,并且自行开发了相应的计算软件,实现了Pσ设计水平与成品率、DPMO相互间的高计算精度换算。
作者 曾臣
出处 《电脑知识与技术(过刊)》 2012年第2X期1166-1167,共2页 Computer Knowledge and Technology
关键词 Pσ设计 DPMO
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Eugene L,Grant,R S.Leavenworth,Statistical Quality Control[]..1976

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