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厚膜电路丝焊工艺中的“闭环”研究
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摘要
目前很多工业所要求的用于确定键合质量的检验方法已证明是可行的且很可靠,它们是焊球剪切,测量焊球直径和焊丝拉力。随着每个电路键合焊丝的增多和焊点尺寸的减小,焊机、焊头、材料和方法之间的影响变得越来越敏感,为此,对其采用“闭环”丝焊方法来研究分析。
作者
王传声
机构地区
信息产业部电子第
出处
《电子元器件应用》
2002年第10期30-32,共3页
Electronic Component & Device Applications
关键词
厚膜电路
丝焊
细间距
键合工艺
分类号
TN452 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子元器件应用
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