IEC火花试验装置检验容性电路的新途径

A New Way of Spark Test Device Proven Capacitive Circuit in IEC Standard

目前 ,利用“IEC本安电路火花试验装置” ,对时间常数较大的电容性电路试验 ,在多数情况下都采用拔钨丝根数来实现。经过近十多年的实际运行表明 ,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度。本文通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置打火间隔的理论分析和计算 ,找出了灵敏度低的原因 ,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下 ,试验电容性电路的新途径。

The paper,by the theoretical analysis and calculation for the discharge time and the strike fire interval of IEC spart test device of the resistance-capacitance circuit,finds out the cause of the low sensitivity and approaches a new way to test ɑnd prove the capacitive circuit,in the prerequisite of no affect on the performances of the IEC spark test device.