摘要
本文介绍了集成电路筛选过程中的主要失效模式及连接性失效的产生原因,并对筛选过程中的失效情况进行了统计分析,提出了连接性失效的判断方法及筛选过程中对连接性失效的防范措施。
The article introduce the primary invalidation mode of IC in the process of filtration and the reason of connect invalidation,analyze the invalidation's status,put forward the way of distinguishing and preventing connect invalidation in the process of IC filtration.
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2012年第S1期66-68,共3页
Journal of Electronic Measurement and Instrumentation