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采用QWACS的实时扩散生产线统计工艺管理
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摘要
目前,开发了实时半导体扩散生产线统计工艺管理(SPC:Statistical Process Control)的质量早期警报管理系统(QWACS:Quality Early Warning Alarm Control System)。
作者
康顺
出处
《微电子技术》
2002年第5期27-27,共1页
Microelectronic Technology
关键词
半导体
质量
QWACS
实时扩散生产线
统计工艺
管理
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
引文网络
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同被引文献
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1
严伟.
混合集成电路生产中的统计工艺控制技术[J]
.电子工艺技术,1993,14(5):19-20.
2
杨功铭.
用统计工艺控制日记来完成的区间控制图[J]
.微电子学,1992,22(3):65-67.
微电子技术
2002年 第5期
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