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清华大学国家工程研究中心推出CD-R光盘参数检测仪
OMNERC Issued CD-R Test Unit
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摘要
清华大学国家工程研究中心通过与国外有关公司的紧密合作,依据国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”,共同开发了CD-R光盘参数检测仪,该检测仪具有以下特点: 检测仪的光学、机械、电路、信号提取、信号传递和信号测量等符合国际相关标准及国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”
出处
《光盘技术》
2002年第5期16-16,共1页
CD TECHNOLOGY
关键词
清华大学国家工程研究中心
CD-R光盘
参数检测仪
可记录光盘
分类号
TQ595 [化学工程—精细化工]
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1
金钰,杨旭光,郑喜凤,丁铁夫.
高精度移频轨道信号参数检测仪的设计[J]
.中国铁路,2009(7):47-50.
被引量:3
光盘技术
2002年 第5期
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