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清华大学国家工程研究中心推出CD-R光盘参数检测仪

OMNERC Issued CD-R Test Unit
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摘要 清华大学国家工程研究中心通过与国外有关公司的紧密合作,依据国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”,共同开发了CD-R光盘参数检测仪,该检测仪具有以下特点: 检测仪的光学、机械、电路、信号提取、信号传递和信号测量等符合国际相关标准及国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”
出处 《光盘技术》 2002年第5期16-16,共1页 CD TECHNOLOGY

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