摘要
本文采用新颖的“双靶对接”技术,利用强度~1.2×10^(13)W/cm^2,波长1.053μm,脉宽~1ns的两路激光线聚焦辐照平面厚锗双靶,观察到波长为19.6,23.2,23.6,24.7和28.6nm的5根类Ne锗3p-3s跃迁谱线的放大。波长为23.2和23.6nm的谱线,增益长度积GL的值均超过13。对X光激光发射的发散角、折射角及时间特性等,也进行了实验现察,为深入了解X光激光的产生和传播,提供了有意义的信息。
出处
《中国科学(A辑)》
CSCD
1991年第2期151-160,共10页
Science in China(Series A)