摘要
中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、数字信号处理系统(Digital Signal Processing)等大功率集成电路在进行动态老炼试验时,由于功率会产生较大热量,温度在短时间内升高显著,超过老炼所能够负荷的温度范围内,导致老炼试验无法有序进行。因此,许多厂商为了预防这一问题的出现,开发并研制出大功率集成电路动态老炼自动温度控制器,其具有采集温度、控制风扇等功能,通过显示屏以及控制按钮进行操作,并将温度控制在老炼试验能够负荷的范围内。
出处
《电子制作》
2016年第3X期6-6,共1页
Practical Electronics