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引信系统电子产品加速寿命试验方法研究 被引量:3

Research of Accelerated Life Testing Method of Fuze System Electronic Products
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摘要 针对引信系统电子类单机寿命长、可靠性高、试验子样少的特点,通过对不同试验与数据评估的比较,提出了基于激活能预估的加速寿命试验设计与评价方法。试验结果表明:采用关键、薄弱环节激活能替代引信电子类单机产品激活能进行加速寿命试验设计和评估的方法可行,有助于解决此类产品寿命与可靠性评估因研制周期紧凑、参试子样少造成的困难。 In view of the characteristics of long life,high reliability and low test sample of the electronic class of the fuze systems,the method of the accelerated life test design and evaluation based on activation energy estimation is proposed.The results show thatthe method is feasible for the design and evaluation of the accelerated life test design and evaluation of the electronic products of thefuze by using the key and weak links.
作者 李晨阳 Li Chen-yang(Beijing Institute of Space Long March Vehicle,Beijing,100076)
出处 《导弹与航天运载技术》 CSCD 北大核心 2017年第1期89-92,共4页 Missiles and Space Vehicles
关键词 引信系统 加速寿命试验 可靠性 Fuze system Accelerated life testing Reliability
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参考文献2

二级参考文献17

  • 1李久祥.整机加速贮存寿命试验研究[J].质量与可靠性,2004(4):14-17. 被引量:28
  • 2罗淑云.非工作贮存期对微电路可靠性的影响[J].电子产品可靠性与环境试验,1996,14(1):50-56. 被引量:2
  • 3GJB548A-96.微电子器件试验方法和程序[S].[S].,..
  • 4吴洵颖.关于对电子元器件在长期贮存试验中出现的若干失效实例的总结[A]..第九届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C].,2001.73-76.
  • 5章海良.[A]..中国电子产品可靠性信息交换网论文集[C].北京,1993.162.
  • 6可靠性标准技术委员会.不工作状态的可靠性/维修性/测试性设计[A]..R.M.S译文选[C].,1993..
  • 7Merren G T, Dormant storage reliability assessments-data based[J]. IEEE Trans Compon, Hybr Manuf Technol, 1981, CHMT-4. (4): 446-454.
  • 8GJB/Z108-98.电子设备非工作状态可靠性预计手册[S].[S].,..
  • 9Wise Loren J. A generalized model for the lifetime of microelectronic components, applied to storage conditions[J]. Microelectron Reliab, 2001,45: 317-322.
  • 10杨家铿.电子元器件长期贮存可靠性分析[A]..第九届全国可靠性物理学术讨论会论文集[C].,2001.65-72.

共引文献38

同被引文献27

引证文献3

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