三波长一体化插回损测试仪的设计与实现

现今光纤通信网络已普及,而链路损耗测试是光纤通信网络研制铺设与日常维护中的必测项目。针对当前光纤通信网络中链路损耗测试仪表功能单一、效率低下问题,设计并实现了三波长一体化的插回损测试仪,波长覆盖1 310 nm、1 490 nm、1 550 nm,可快速实现光纤链路的插损、回损及光纤长度测试。试验结果表明,该测试仪操作简便、测试效率高,具有一定的推广应用价值。