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射频产品自动测试系统的校正方法及案例研究

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摘要 基于ATE射频CP测试的校准技术,通过辅助去嵌结构,使得在射频产品的CP测试过程中消除测试系统阻抗不匹配带来的测试误差。从而能够获得更准确的测试结果,最终提高测试良率,节约测试成本。
作者 孙秀伟
出处 《山东工业技术》 2017年第24期117-117,共1页 Journal of Shandong Industrial Technology
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