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光电效应特性曲线“倒置”问题的分析

Analysis of "lnversion" Problem of Photoelectric Effect Characteristic Curve
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摘要 在光电效应实验中,伏安特性曲线按照波长由小到大的顺序排列,但是404.7nm却在435.8nm的下面,从谱线的发光强度和光电光管的光谱灵敏度两方面,对光电效应实验中特性曲线"倒置"的问题进行了分析,解释了实验教学中容易引起困惑的问题。 The volt ampere characteristic curve in the photoelectric effect experiment is arranged in the order of the wavelength from small to large,but 404.7nm is below 435.8 nm,and the students cannot understand it.The problem of"inversion"of the characteristic curve in the photoelectric effect experiment is analyzed from two aspects of the luminous intensity of the spectral and the spectral sensitivity of the optical tube,which explains the problem that is easily confusing in experimental teaching.
作者 薛泽利 王洪涛 李金鑫 葛洪亮 XUE Ze-li;WANG Hong-tao;LI Jin-xin;GE Hong-liang(College of Science,Jamusi University,Jamusi 154007,China)
出处 《佳木斯大学学报(自然科学版)》 CAS 2018年第2期310-311,314,共3页 Journal of Jiamusi University:Natural Science Edition
基金 黑龙江省教育厅科学技术研究项目(12533071)
关键词 光电效应 曲线“倒置” 光谱强度 光谱响应 光电流 photoelectric effect curve inversion spectral intensity spectral response photocurrent
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参考文献3

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