摘要
本文对于基于单片机的示波测试技术进行分析和探讨,为其进一步发展提供创新的思路。
The oscillographic testing technology based on analysis and discussion,to provide new ideas for its further development.
作者
杨宇
杨溢
Yang Yu;Yang Yi(Army service college,Wuhan Hubei,430035)
出处
《电子测试》
2018年第2期91-91,93,共2页
Electronic Test
关键词
单片机
示波器
测试
singlechip
oscillograph
test
