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浅谈半导体分立器件的失效与预防
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摘要
本文为研究在电应力的作用下,半导体分立器件的可靠性能的影响因子,对元器件失效现象进行了详细的分析研究并提出了有效的预防半导体分立器件失效的措施和建议。
作者
谢胜涛
机构地区
哈尔滨晶体管厂
出处
《科技经济市场》
2018年第8期111-113,共3页
关键词
半导体
器件
失效
预防
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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