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平面光栅衍射效率测试系统

Plane grating diffraction efficiency measurement system
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摘要 采用双CT结构以及光路追迹的优化光路系统,将光斑自动调整与三轴转台结合实现不同规格待测光栅的自动装调。实验结果表明,测量重复性误差小于2%。 Double CT structure and optimized optical ray tracing path are applied in the system.Light spot adjustment is combined with a three-axis gimbal to regulate the gratings.Experimental results show that the repeatability rate is less than 2%.
作者 于宏柱 YU Hongzhu(Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences,Changchun 130033,China)
出处 《长春工业大学学报》 CAS 2018年第5期499-504,共6页 Journal of Changchun University of Technology
基金 国家重点研发计划基金资助项目(2016YFF0103304) 吉林省科技发展计划基金资助项目(20180201035GX) 吉林省与中国科学院科技合作高技术产业化专项基金资助项目(2018SYHZ0014)
关键词 平面光栅 衍射效率 光线追迹 plane grating diffraction efficiency ray tracing
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