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卫星用进口裸芯片可靠性评价方案设计与应用 被引量:1

Design and applications of the reliability evaluation framework for assembly-used bare chip in satellites
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摘要 目前卫星型号组件研制过程中往往采用进口裸芯片,如何提高进口裸芯片可靠性成为了型号组件应用的难题之一。描述了进口裸芯片评价方案设计的基本思路、基本要求,列出了裸芯片评价试验的设计步骤、目的及可暴露的缺陷,并通过实例说明了评价方案设计过程,同时也指出了目前实施过程中出现的问题,有利于推动进口裸芯片评价工作的开展,并进一步提升裸芯片的装机可靠性。
出处 《质量与可靠性》 2018年第6期44-48,共5页 Quality and Reliability
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参考文献1

二级参考文献7

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