基于微波技术的包装产品内部缺失检测装置设计

Design of testing device for internal defects of packaged products based on microwave technology

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摘要本文设计了一种包装产品内部缺失检测装置,该装置基于微波检测原理[1-2],用于检测包装内部产品是否存在缺失,避免有问题的产品流入市场。本装置已在多个行业的包装生产线上安装运用,系统运行稳定,检测准确度高,得到客户的一致好评。

作者沈宝诚万玮彭刚

出处《电子产品世界》 2019年第3期43-44,48,共3页 Electronic Engineering & Product World

关键词微波检测包装内部产品缺失微波发射喇叭天线

参考文献2

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电子产品世界

2019年第3期

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