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Optem~?FUSION~?SWIR透镜系统

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摘要 埃赛力达近期为其Opten?FUSION?微探测透镜系统推出了新的扩展功能。在升级改造后,它能满足短波红外(SWIR)传感器不断增长的需求及工业4.0制造所需的机器视觉要求。现在,该透镜系统可为关键的可见光(400nm^700nm),近红外NIR(700nm^1100nm)和短波红外波段SWIR(900nm^1700nm)提供真正的多色成像性能。
出处 《传感器世界》 2019年第3期48-48,共1页 Sensor World
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