期刊文献+

导电密封条贮存寿命评价试验方法研究

Study on Evaluation and Test Method for Storage Life of Conductive Sealing Strip
下载PDF
导出
摘要 分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理,确定贮存期的典型环境条件,以老化失效机理作为分析对象,基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型,以单一温度为加速试验条件,设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法,可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为:温度100℃,相对湿度5%,试验时间28.3d。
作者 张钟文 王学孔 唐庆云 钟云龙 林婷婷 Zhang Zhongwen;Wang Xuekong;Tang Qingyun;Zhong Yunlong;Lin Tingting
出处 《橡胶工业》 CAS 2019年第4期311-313,共3页 China Rubber Industry
基金 国家电子信息产品可靠性与环境工程技术研究中心培育项目(2017B090903006)
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献15

共引文献42

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部