相控阵双全法改善缺陷表征

与常规技术相比,相控阵超声检测(PAUT)优势凸现:速度快,可靠性好,灵敏度高,分辨力优。应对复杂检测,PAUT总是首选技术。随着计算功效强化,新一代超声设备管控大数据能力优化,“双全”法一一全矩阵捕获(FMC)和全聚焦法(TFM)等先进成像技术应运而生。结合标准许可的方法使用,这些技术可使缺陷表征大为改善。本文即论证相控阵检测与先进成像法相结合,如何为UT日常应用,强化缺陷表征过程。