光伏组件接线盒二极管的击穿失效分析

Failure analysis of diode breakdown of PV module junction box

针对光伏组件接线盒在电致发光(EL)检测后二极管击穿失效的现象,通过X光射线和光学显微镜对损伤二极管进行观察分析,利用数字示波器对EL测试仪的电压进行跟踪观察,并模拟高温、顺向电流和不同电压等级对二极管性能的影响。研究结果表明:接线盒两端电压峰值超过100V时,二极管有击穿风险;组件在EL测试过程中受到过大电压冲击时会导致接线盒二极管击穿失效。