悬式绝缘子内部人工缺陷的相控阵超声波检测策略研究

针对利用传统方法对复合绝缘子内部缺陷进行检测,不仅检出率不高,而且灵敏度也不显著,或者操作时间过长,并且过程相对复杂等问题。本篇论文,旨在借助于超声波相控阵检测技术,针对现有的空心悬式绝缘子当中所存在的一系列问题,进行科学合理的综合检测。首先,对相控阵超声波的基本原理进行深入阐述;然后深入分析平板硅橡胶破损缺陷和芯棒贯穿式钻孔缺陷的图像特征。实验结果表明,当针对前者进行检测时,需要将检测面放置于水平状态,使得探头能契合硅橡胶来实现反复扫查,以此来表现出相对较高的检出效率。除此之外,当针对后者进行检测时,因为当借助于扇扫边缘进行检测的情况下,往往会受到来源于旁瓣的实际影响,故而成像往往并不清晰,无法表现出良好的检出效率。