基于51单片机和AD5933的便携式电阻抗测试系统设计

针对商用阻抗分析仪存在的价格昂贵、设备笨重等缺点,借助51单片机、AD5933芯片及辅助电路构建了一套便携式电阻抗测试系统。该测试系统可以在0.1~100kHz频率范围内以0.2~2V的激励电压对PZT传感器进行电阻抗测量。使用该系统对一维梁结构上宽度为0.5mm的裂纹损伤扩展过程进行了检测;研究结果表明,所构建的测试系统对于一维梁结构的初始损伤具有很高的灵敏度,对于随后的扩展损伤也能进行有效的检测。