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THE BEHAVIORS OF 48 keV Si IONS IMPLANTED INTO (100) GaAS

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摘要 THEBEHAVIORSOF48keVSiIONSIMPLANTEDINTO(100)GaASLiuHuizhen(刘惠珍);CaoDexin(曹德新);ZhuDezhang(朱德彰);ZhuFuying(朱福英)andCaoJianqing(曹建清...
出处 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 1994年第1期51-57,共7页 核技术(英文)
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