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高压大功率开关晶体管少子寿命与诸电参数之间的关系及其控制技术的研究 被引量:1

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摘要 本文研究了少子寿命与开关晶体管主要电参数之间的相互制约关系,探索了少子寿命的控制技术。
作者 郑继义
机构地区 八七七厂
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第1期28-33,共6页 Semiconductor Technology
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