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选择性外延隔离P^+多晶硅栅PMOSFET

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摘要 在离子注入埋层的硅片上,以SiO_2层为掩膜和隔离,生长了选择性外延(SEG)单晶硅层,并在此外延层上制作了P^+掺杂的多晶硅栅PMOSFET。浅源漏结的P^+多晶硅栅PMOSFET是使用一次离子注入同时完成栅与源漏的掺杂注入,并由低温退火与快速热退火完成杂质的再分布推进。测试结果表明PMOSFET的短沟道效应明显减小。
作者 凌浩 熊大菁
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第2期25-28,12,共5页 Semiconductor Technology
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