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选择性外延隔离P^+多晶硅栅PMOSFET
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摘要
在离子注入埋层的硅片上,以SiO_2层为掩膜和隔离,生长了选择性外延(SEG)单晶硅层,并在此外延层上制作了P^+掺杂的多晶硅栅PMOSFET。浅源漏结的P^+多晶硅栅PMOSFET是使用一次离子注入同时完成栅与源漏的掺杂注入,并由低温退火与快速热退火完成杂质的再分布推进。测试结果表明PMOSFET的短沟道效应明显减小。
作者
凌浩
熊大菁
机构地区
清华大学微电子研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第2期25-28,12,共5页
Semiconductor Technology
关键词
PMOSFET
单晶硅层
隔离
硅栅
掺杂
分类号
TN386.4 [电子电信—物理电子学]
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