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用数值法分析TF-SOI-MOS管沟道区的电势分布

Numerical Analysis on Channel Potential Distribution of TF-SOI-MOSFET
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摘要 本文对 TF-SOI/MOS管,采取双栅极模型,用有限元和有限差分法分别求解沟道区的电势分布,得到了前栅(front gate)及背栅(back gate)MOS体电势二维分布.总结了指导TF-SOI-MOS 器件研制的要点.并对TF-SOI-MOS器件数值模拟方法进行了讨论. Finite element and finite difference methods are used to calculate the channel potentialHistribution of TF-SOI-MOSFET with double-gate. The front gate, back gate and 2-D MOSbody potential distribution are obtained. Some conclusions to instruct the manufacture of TF-SOI-MOS devices are made and the numerical simulation of TF-SOI-MOS devices is discus-sed
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第12期736-741,共6页 半导体学报(英文版)
基金 电子科学院项目
关键词 MOS器件 电热分布 沟道区 Finite difference method Finite element method Semiconductor device manufacture Semiconductor device models
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参考文献5

  • 1阮刚,半导体器件的分析与模拟,1988年
  • 2杨凤翔,数值分析,1985年
  • 3汤怀民,微分方程数值解法,1984年
  • 4廉尼尔,矩阵计算,1983年
  • 5李荣华,微分方程数值解法,1980年

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