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电子器件的失效判据

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作者 韩卓人
出处 《半导体杂志》 1992年第3期32-37,共6页
关键词 电子器件 失效分析 可靠性
分类号 TN06 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献
半导体杂志
1992年 第3期

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