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测定表面织构薄膜厚度的X射线双极衍射法 被引量:1

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出处 《薄膜科学与技术》 1992年第2期29-34,共6页
  • 相关文献

同被引文献3

  • 1黄胜涛,固体X射线学.1,1985年
  • 2陶琨,理化检验.物理分册,1984年,20卷,1期,19页
  • 3王英华,X光衍射技术基础,1987年

引证文献1

二级引证文献1

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