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IC测试系统精密定时器的新结构 被引量:1

New Architecture of Accurate Clock Generator in IC Test System
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摘要 讨论了一种适合于 VL SI的精密定时子系统的新结构 .该结构将定时计数器分为高速和低速两部分 ,低速部分采用存储器代替分散的寄存器 ,既有利于集成 ,又降低了系统的成本 .同时 。 A new structure of accurate clock generate subsystem is presented which is fit for VLSI design.The timing counter is divided into two parts,one for high speed and the other for low speed.Registers in low speed part are replaced by centralized memories,which decrease the wiring complexity and reduce the cost.Programmable counter and peripheral control circuits are designed to solve the problem of timing in incomplete period.The new clock generator can work at 100MHz and the total timing period can be up to more than 1h.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第11期1224-1227,共4页 半导体学报(英文版)
关键词 IC 测试系统 精密定时器 VLSI 集成电路 IC test clock generator VLSI
  • 相关文献

参考文献4

  • 1林雨.大规模集成电路测试图案产生方法研究[J].半导体学报,1980,1(4):329-329.
  • 2李云岗 林雨.微处理器测试图案产生方法的研究[J].半导体学报,1985,6(3):268-268.
  • 3施映.提高IC测试系统性价比的研究.中国科学院半导体研究所硕士学位论文[M].,1997..
  • 4王东辉,李刚,林雨.新型程控模拟量发生器[J].Journal of Semiconductors,2001,22(12):1561-1564. 被引量:1

二级参考文献3

  • 1李刚,硕士学位论文,1999年
  • 2李云岗,半导体学报,1985年,6卷,3期,268页
  • 3林雨,半导体学报,1980年,1卷,4期,329页

同被引文献2

  • 1王东辉.集成电路测试系统的结构分析和集成化研究[M].北京:中国科学院半导体研究所,2002..
  • 2Gasbarro J, Horowitz M. A single -chipfunctional tester for VLSIcircuits [J] . ISSCC 1990 Dig Tech Papers, 1990, (2): 84-85.

引证文献1

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