国产WSP—1平面光栅摄谱仪对钼中杂质元素分析的应用
-
1朱正发.应用WP—2L国产平面光栅摄谱仪IPC—AES法分析纯金属铝中的杂质元素[J].北光通讯,1992(2):55-58.
-
2采用WSP—1型光栅摄谱仪对钼铁中五害进行光谱分析[J].北光通讯,1992(2):51-54. 被引量：1
-
3叶晨亮.发射光谱法快速测定银锡铜铅锌钼铍[J].岩矿测试,2004,23(3):238-240. 被引量：7
-
4曾燕斌,林常辉.国产WSP—1型平面光栅摄谱仪在稀土分析中的应用[J].北光通讯,1992(4):46-50.
-
5饶经.国产WSP—1平面光栅摄谱仪在高纯氧化钇中的非稀土杂质测定中的应用[J].北光通讯,1994(4):24-25.
-
6黄存礼,谢原寿.WSP—1平面光栅摄谱仪在PbO2电极性能研究中的应用[J].北光通讯,1994(3):39-40.
-
7许树国,洪英华.国产WSP—1平面光栅摄谱仪在高纯稀土元素分析中的应用[J].北光通讯,1993(1):40-42.
-
8陈凤翔,张荔江,等.应用国产WSP—1平面光栅摄谱仪ICP—AES法测定荧光纯y2o3中微量稀土杂质[J].北光通讯,1994(4):37-40.
-
9成世昌.用国产WSP—1平面光栅摄谱仪测定高纯氧化钇中14个稀土杂质[J].北光通讯,1993(3):25-27.
-
10项亮,李云.原子发射光谱分析技术及其发展和应用[J].化工管理,2015(36):78-78. 被引量：4
