一种CCD漏电流自动扫描测试系统设计

本文设计以FPGA为核心,单刀双掷(SPDT)开关为基础,配合相关的外围接口电路和智能控制采集软件,实现了高速有效地测量常规CCD芯片栅对栅、栅对地漏电流的设计目标。测量结果表明,使用该系统可以高效快速的判断出常规CCD内部电极之间是否存在短路或漏电情况,可直接应用到项目研制中去。