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GeSbTe薄膜的制备与表征

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摘要 文章通过磁控溅射仪制备了GeSbTe薄膜,用原子力显微镜扫描形貌,并采用纳米压痕技术对其表征。通过分析加载曲线和卸载曲线,排除弹性形变、表面粗糙度、针尖曲率半径等因素的影响,得到60 nm厚的GeSbTe薄膜的硬度和弹性模量,为后期薄膜的制备和力学特性研究提供一定的依据。
机构地区 江苏大学
出处 《科学大众(科技创新)》 2019年第10期80-80,82,共2页
基金 江苏大学2019年度大学生科研立项项目(17A202)。
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参考文献3

二级参考文献69

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