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集成电路测试机的挑战与趋势被引量：2

The challenge and trend of IC ATE

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摘要介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。

作者迎九

机构地区《电子产品世界》

出处《电子产品世界》 2020年第1期9-11,共3页 Electronic Engineering & Product World

关键词集成电路测试微调 TRIM

分类号 TN9 [电子电信—信息与通信工程]

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