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集成电路测试机的挑战与趋势
被引量:
2
The challenge and trend of IC ATE
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摘要
介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。
作者
迎九
机构地区
《电子产品世界》
出处
《电子产品世界》
2020年第1期9-11,共3页
Electronic Engineering & Product World
关键词
集成电路
测试
微调
TRIM
分类号
TN9 [电子电信—信息与通信工程]
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电子产品世界
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