摘要
本文深入探究电子电路障碍检测技术出现故障的原因,对电子电路故障的检测技术实施具体分析。
In this paper,we deeply explore the causes of electronic circuit fault detection technology,and analyze the detection technology of electronic circuit fault.
作者
陈炳钦
Chen Bingqin(Foshan Technician institute,Foshan Guangdong,528237)
出处
《电子测试》
2020年第3期53-54,10,共3页
Electronic Test
关键词
电子电路
故障检测技术
探索
electronic circuit
fault detection technology
exploration
