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基于失效分析的功率MOSFET应用可靠性研究 被引量:3

Research on Application Reliability of Power MOSFET Based on Failure Analysis
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摘要 功率MOSFET因良好的压控开关特性和低导通阻抗特点,在功率电子电路中应用广泛。该类器件对装配工艺及设计应用有较高要求,本文在对几例功率MOSFET器件失效进行分析的基础上,总结了影响器件应用可靠性的因素,给出了相应的控制措施。 Power MOSFET is widely used in power electronic circuits because of its good voltage controlled switching characteristics and low on impedance.This kind of device has higher requirements for assembly process and design application.Based on the failure analysis of several power MOSFET devices,this paper summarizes the main factors affecting the reliability of device application,and gives the corresponding control measures.
作者 唐万军 张世莉 TANG Wan-jun;ZHANG Shi-li(China Electronics Technology Group Corporation No.24 Research Institute,Chongqing 400060)
出处 《环境技术》 2020年第1期57-59,80,共4页 Environmental Technology
关键词 失效分析 MOSFET 可靠性 failure analysis MOSFET reliability
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二级参考文献15

共引文献5

同被引文献14

引证文献3

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