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半导体器件的温度参数与质量等级

Temperature Parameters and Quality Levels of Semiconductor Devices
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摘要 该文对半导体器件质量等级的由来进行了说明,并对国内外军用半导体器件的质量保证等级作了介绍,以期对从事半导体器件设计选型、采购管理的人员有所帮助,加深对于半导体器件质量等级的认识。 In this paper,the origin of the quality level of semiconductor devices is explained,and the quality assurance level of military semic onductor devices at home and abroad is introduced,with a view to helping the personnel engaged in the design selection and procurement management of semiconductor devices,and deepening the understanding of the quality level of semiconductor devices.
作者 黄雄文 Huang Xiong-wen(14^th Institute of CETC,Jiangsu Nanjing 210039)
出处 《电子质量》 2020年第3期60-62,共3页 Electronics Quality
关键词 半导体器件 温度参数 质量等级 Semiconductor devices temperature parameters quality level
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献3

  • 1GJB/Z 299B-1998,电子设备工作状态可靠性预计手册[S].
  • 2GJB/Z 299C-2006.电子设备工作状态可靠性预计手册[S].
  • 3MIL-HDBK-217 NOTICE Ⅱ-1995.美国军用手册电子设备可靠性预计手册修改通告Ⅱ[S].

共引文献11

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