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比利时:X射线可无损检测梨品质 被引量:1

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摘要 为保持采后鲜梨及运输过程中梨的品质,采取了控制供应链和延长贮藏期的方法。在贮藏过程中,由于贮藏条件不佳,可能导致梨内部腐烂,但外形上没有变化,这使工作人员无法以可靠无损的方式使用当前商业质量分级系统来进行检测。比利时科学家研发了一种新的检测方法,结合了支持向量机、特征提取算法和X射线计算机断层扫描技术,能成功无损检测梨果实内部品质。
出处 《中国果业信息》 2020年第3期44-44,共1页 China Fruit News
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