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轴对称非球面绝对形状误差测量

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摘要 非球面光学元件表面形貌的干涉测量因须透过计算机全像片、零透镜等补偿元件提供与待测元件相匹配的理想非球面波前,故需严谨与复杂的程序进行测量系统即包含干涉仪内部光路系统对准误差、参考球面镜头与补偿元件等误差的校正。
机构地区 台湾清华大学
出处 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第6期220-220,共1页 Journal of Mechanical Engineering
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