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四探针法测量薄层电阻方法对比 被引量:4

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摘要 通过分析对比常规直线四探针、双电法、范德堡法的测试原理及优缺点,有如下结论:在待测样品较厚时,以常规四探针为宜;对于较薄样品中双电法测试精度更高;范德堡法经改进后,更加适合微区薄层电阻的测量。
出处 《信息记录材料》 2020年第3期245-246,共2页 Information Recording Materials
基金 2020.01华南农业大学《微电子技术》课程思政示范项目批文号20191220。
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

  • 1[2]Rymaszewski R 1967 Electron. Lett. 3 57
  • 2[3]SunYC , Shi J S , Meng Q H 1996 Semicond. Sci. Techn. 11805
  • 3[7]Van Der Pauw L J 1958J.Philips Res.Rep.13 1

共引文献27

同被引文献37

引证文献4

二级引证文献1

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