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片式多层陶瓷电容器失效分析
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摘要
在电子设备中,片式多层陶瓷电容器一种基础电子元件,因其优良性能,在电路设计中得到了广泛的应用;文中从片式多层陶瓷电容器本身问题和外在因素方面,深入阐述了其常见应用失效模式。然后提出了有效的设计方法,以提升片式多层陶瓷电容器的应用可靠性。
作者
王福红
陈天乐
机构地区
南京科瑞达电子装备有限责任公司
海装上海局驻南京地区第四军事代表室
出处
《科技成果纵横》
2020年第4期104-105,共2页
关键词
片式多层陶瓷电容器
失效模式
开裂
应力
分类号
TM5 [电气工程—电器]
引文网络
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