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透射电镜试样制备的新技术(起凹法)
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摘要
采用透射电子显微镜实验技术可以观察研究材料内部微观组织结构;但该方法对试样制备技术要求较高,制样周期较长。本文介绍了一种初制备透射电镜试样的起凹技术。具体描述了这种技术的原理、工作方式;同时还提供了实际仪器构型外观,以便读者应用。这种起凹方法简单易行,可大大缩短透射电镜试样制备过程的周期。
作者
沙维
机构地区
北京科技大学
出处
《材料科学与工程》
CSCD
1992年第4期40-40,25,共2页
Materials Science and Engineering
关键词
透射电镜
试样
制备
材料
分类号
TB30 [一般工业技术—材料科学与工程]
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陶景光.
界面和多层结构横截面高分辨电镜制样方法及应用[J]
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2
朱贤方,张立德.
一种直接用内耗丝状试样制备电镜薄膜的简易方法[J]
.理化检验(物理分册),1992,28(4):58-58.
材料科学与工程
1992年 第4期
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