摘要
2020年5月19日上午,2019年度上海市科技奖励大会在上海展览中心中央大厅召开,隆重表彰为上海科技创新事业和经济社会发展作出突出贡献的科技工作者。上海市计量测试技术研究院3项科技成果喜获上海市科技进步奖,其中二等奖2项,三等奖1项。《曲轴凸轮轴综合测量仪标准器研制及溯源系统建立》项目获得上海市科技进步二等奖。项目研制了基于外平面内刀口的小花键环规棒间距测头机构.
出处
《上海计量测试》
2020年第3期F0002-F0002,共1页
Shanghai Measurement and Testing
