光学计量测试技术专刊如期出版

为交流研讨光学计量测试技术领域最新研究成果,《应用光学》编辑部联合国内知名计量单位和机构,策划组织了"光学计量测试"专题出版活动。经过为期9个月的策划和筹备,在《应用光学》喜迎创刊40周年之际,该专刊于2020年7月15日如期出版。本次组稿专家团队由光学计量与测试领域6位领军科研项目研发与高层次专业人才培养的权威专家组成,包括西安应用光学研究所(国防科技工业光学一级计量站)杨鸿儒教授、南京理工大学高志山教授、中国计量科学研究院光学与激光计量科学研究所林延东研究员、中国计量大学金尚忠教授、北京理工大学赵维谦教授、华东电子测量仪器研究所(国防科技工业光电子一级计量站)王恒飞研究员。