细节距器件焊接缺陷分析及质量控制

本文对某细节距PQFP器件焊接缺陷的末端要因,采用关联图进行分析并验证。为确保器件引线共面度控制在0.10mm以内,利用光学反射原理,设计了一款易于便捷校正引线共面度的目检辅助工具。通过二次开发SPI锡膏测厚仪,不增加新设备,实现器件引线共面度的检测。工艺改进后,通过焊接试验件验证了质量控制的有效性。